采购信息
金相荧光显微镜、轮廓仪等采购公示
来源:财务资产部
发布时间:2020-09-25
序号 | 项目名称 | 先进半导体研究院 | ||
1 | 公示开始日期 | 2020年9月25日 | 公示截止日期 | 2020年9月29日 |
品名 | 金相荧光显微镜 | 技术参数及配置要求 | 1. 研究级正置显微镜:包含明场反射、明场透射、暗场、荧光等功能; 2. 专用载物台:≥78 X 54 mm; 3. 专用三目镜筒:三档分光,目镜和相机可同时观察; 4. 物镜转换器:≥5孔; 5. 明暗场物镜: 1X物镜:N.A.≥ 0.04, W.D.≥ 3.2 mm; 5X明暗场物镜:N.A.≥ 0.15, W.D.≥ 18 mm; 10X明暗场物镜: N.A.≥ 0.30, W.D.≥ 15 mm; 20X长工作距离明暗场物镜: N.A.≥ 0.40, W.D.≥ 19 mm; 50X长工作距离明暗场物镜: N.A.≥ 0.60, W.D.≥ 11 mm; 6. 荧光系统:六工位荧光转盘。长寿命荧光照明,130瓦汞灯照明,汞灯寿命≥2000小时,荧光光强分6档连续可调; 7. 配备蓝色(DAPI)绿色(FITC),红色(TRITC)带通型发射荧光滤光块,无荧光串色现象; 8. 原装进口数码成像系统:科研级别相机(需跟显微镜同品牌能及插及用): (1)物理像素≥580万; (2)芯片:≥ 1/1.8英寸,尺寸:6.91mm*4.92mm; (3)模数转换深度:12bit*3; (4)全像素2880X2048,速度不低于15 FPS,1440X1024不低于30 FPS; (5)灵敏度:相当于ISO 50-3200; (6)曝光时间:100微秒 to 30秒; 9. 正版软件系统:具有拍照、录像、图像处理、多色图像叠加、自动形态学、光密度测定、测量等功能; 10. 电脑:品牌电脑,8G内存,I5中央处理器,1T硬盘,24寸液晶监视器等。 | |
预算金额 | ¥260,000.00 | 供应商 | 上海千欣仪器有限公司 | |
经办人 | 陈老师 | 联系电话 | 0571-82395260 | |
2 | 项目名称 | 先进半导体研究院 | ||
公示开始日期 | 2020年9月25日 | 公示截止日期 | 2020年9月29日 | |
品名 | 显微镜 | 技术参数及配置要求 | 1. 光学系统:IC2S无限远色差反差双重校正光学系统,45mm国际标准物镜齐焦距离; 2. 观察方式切换:采用不少于4位功能模块转盘; 可实现观察方法:明场,暗场,C-DIC; 3.光强系统:切换物镜放大倍数及观察功能时可自动调整至预设光强; 4. 照明:使用长寿命LED光源,寿命不低于5万小时; 5. 镜筒:三目镜筒,2.5倍管镜,可调整瞳距及上下角度; 6. 目镜:10倍带刻度超大视野平场目镜,每个目镜均可单独进行屈光度调整,视场不小于20mm; 7. 物镜转盘:不少于4孔多功能物镜转换器,软件可以读出当前所使用的观察模块; 8. 载物台:配有晶圆载物台,可放置3、4、6英寸样品; 9. 物镜: (1)5x增强反差反射光平场明暗场物镜,数值孔径不小于0.13; (2)10x增强反差反射光平场明暗场物镜,数值孔径不小于0.25; (3)20x增强反差反射光平场明暗场物镜,数值孔径不小于0.4; (4)50x增强反差反射光平场明暗场物镜,数值孔径不小于0.75; (5)100x增强反差反射光平场明暗场物镜,数值孔径不小于0.85。 | |
预算金额 | ¥236,000.00 | 供应商 | 建发(上海)有限公司 | |
经办人 | 冉老师 | 联系电话 | 0571-82395260 | |
3 | 项目名称 | 先进半导体研究院 | ||
公示开始日期 | 2020年9月25日 | 公示截止日期 | 2020年9月29日 | |
品名 | 显微镜 | 技术参数及配置要求 | 2套晶圆检查专用显微镜系统,适合多尺寸的晶圆(最大支持8寸晶圆检测)、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测: 1. 主机架,符合人体工学设计,支持LED反射光源观察,内置电动控制模块; 2. 载物台及聚焦装置:带内置离合驱动的手动载物台,配备可旋转晶圆托架及台板,XY行程210*210mm,Z行程32mm,最小分度1微米,具有上限位器和扭矩调节功能; 3. 光学系统:无限远校正光学系统; 4. 观察方式:反射明场、暗场、后期可拓展透射、偏光、DIC及MIX明暗场混合; 5. 三目镜筒:超宽视场数26.5,倾斜正像,2档光路切换,配套两个10倍目镜,带有屈光度调节环; 6. 物镜:5孔明暗场带插槽电动物镜转盘,配套5-100X专业物镜各一套,物镜具体技术参数如下: 5 倍金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.15,工作距离12mm; 10 倍金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.30,工作距离6.5mm; 20 倍金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.45,工作距离3.0mm; 50 倍金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.80,工作距离1.0mm; 100 倍金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.90,工作距离1.0mm; 长工作距离高倍物镜参数: 50 倍长工作距离金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.50,工作距离10.6mm; 100 倍长工作距离金相平场半复消色差明场/暗场物镜,数值孔径0.80,工作距离3.3mm; 7. 附件:各配备滤色插片2个,用于平衡色温,各配套中间变倍体一个及成像接口一套; 8. 2套成像系统:原装500W像素彩色摄像头,图像清晰鲜明,色彩保真度高,灵敏度高,USB3.0接口;配套原装基础测量软件,支持距离、角度、圆形、多边形等多种测量工具,数据可导出,图片支持多种格式保存; 9、配套2套国内主流品牌台式套装PC,配置适配成像系统功能需求。 | |
预算金额 | ¥435,900.00 | 供应商 | 杭州全谱实验室设备有限公司 | |
经办人 | 冉老师 | 联系电话 | 0571-82395260 | |
4 | 项目名称 | 先进半导体研究院 | ||
公示开始日期 | 2020年9月25日 | 公示截止日期 | 2020年9月29日 | |
品名 | 轮廓仪 | 技术参数及配置要求 | 1. 相机:黑白 CCD 相机 130 像素; 2. 适用尺寸:4,6英寸SiC晶圆; 3. 测量晶圆厚度范围:300~700um; 4. 设备功能:具有校准功能并附带校正样块,可保存测量图片和测量数据; 5. 边缘测定尺寸:倒角尺寸各部; T-mode:T,X1,X2,Y1,Y2,Y3,R1,R2,A1,A2; R-mode:T,X1,X2,Y1,Y2,R,A1,A2; 6. 槽口测定尺寸:槽口尺寸各部 R-mode:Vh,Vw,P1,P2,Vr,AngV,Lr,Rr 7. 晶圆接触部:晶圆放置台(特氟龙涂层); 8. AC线3条; 9. 影像线2条; 10. 显示器线1条; 11. 备份CD-ROM1张; 12. 校正样块 1个; 13. 4倍镜头 1个; 14. 尺寸精度:晶圆厚度、边缘轮廓长度、宽度、深度等测量数据精确到1um; 15. 硅片边缘轮廓弧度、圆周等的半径测量数据精确到1um;重复精度 ±10um; 16. 角度精度:边缘轮廓角度的测量数据精确到0.1°;重复精度 ±1.0°; 17. 尺寸校正精度:晶圆厚度、边缘轮廓长度、宽度、深度等测量数据校准或修正精为1um,硅片边缘轮廓弧度、圆周等的半径测量数据校准或修正精度为1um; 18. 角度校正精度:晶圆边缘轮廓角度的测量数据校准或修正精度为0.1°。 | |
预算金额 | ¥492,000.00 | 供应商 | 上海瞻驰光电科技有限公司 | |
经办人 | 沈老师 | 联系电话 | 0571-82395260 |
对以上公示内容有异议的,请于公示截止日前以实名书面(包括联系人、地址、联系电话)形式将意见反馈至浙江大学杭州国际科创中心财务资产部(联系电话:0571-82359109;0571-82359101)。