采购信息

方阻测试仪采购公示
来源:财务资产部 发布时间:2020-10-22
项目名称先进半导体研究院
公示开始日期2020年10月22日公示截止日期2020年10月27日
品名方阻测试仪技术参数及配置要求1、技术要求
   (1)薄膜电阻率: 1 m
Ω.cm到300 kΩ.cm
   (2)方块电阻: 2 m
Ω/sq到5 MΩ/sq
   (3)晶片直径: 50至200mm,可测量不规则硅片
   (4)测量方式: 手动放片,自动下针,自动扫描测试
   (5)测量精度
    测试内部标准电阻0.5%
    测试标准电阻样品 1%
   (6)测量重复性
    测试标准电阻样品0.2%
2、恒流源技术参数
      (1)电流输出
    电流档              精度              适用电压档
    100 nA       ±(0.2%+0.1nA)         60V
    1
μA           ±(0.1%+0.5nA)         60V
    10
μA         ±(0.1%+2nA)            60V
    100
μA        ±(0.1%+20nA)          60V
    1 mA          ±(0.1%+0.2uA)         60V
    10 mA        ±(0.1%+2uA)            30V
    100 mA       ±(0.1%+20uA)         10V
 3、数字电压表技术参数
    电压档                  精度            输入阻抗
    3.000 mV          ±(0.1%+5   digit)       10
10
    30.00 mV          ±(0.1%+2   digit)       10
11
    300.0 mV          ±(0.1%+2   digit)       10
12
4、探针技术参数
    (1)探针品牌:Jandel(寿命质保10万次以上,一般寿命25万次。)
    (2)要求在测试的时候,测试探头能够自动对测试点进行测试,不必用手动调整测试探头进行测试。
    (3)四探针探头基本指标间距:1mm;
    (4)探针压力:50-650g可调。
5、数据分析系统(在软件自动控制下测量)
    (1)具有2D,3D Mapping的数据分析功能。
    (2)具有测试数据自动导出功能。
    (3)具有边缘修正功能。
6、电源等基础要求
    (1)电压为220伏特,频率为50赫兹
    (2)功耗:低于200瓦特
    (3)自带小型的真空干泵
7、附件
    (1)除主机标配一套探针以外,另配一套探针。
    (2)附送标准电阻片(带校准证书),校准电阻片。
    (3)安装使用说明书、质量检验证明书、随配附件、维护指南和清单等一并附于货物内。提供设备操作手册、工艺手册及硬件手册(电气回路图,PM指导书等)
8、符合以下标准
    <JIS> JIS H 0602-1995, JIS K 7194-1994
    <ASTM> ASTM F 84-99(SEMI MF84),
    ASTM F 374-00a, ASTM F 390-11,
    ASTM F 1529-97
   
预算金额¥260,000.00 供应商德仪国际贸易(上海)有限公司
经办人王老师联系电话0571-82395260

对以上公示内容有异议的,请于公示截止日前以实名书面(包括联系人、地址、联系电话)形式将意见反馈至浙江大学杭州国际科创中心财务资产部(联系电话:0571-82359109;0571-82359101)。